全光譜氙燈老化試驗箱備采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。

 氙燈耐侯老化機有紫外線控制以實現可靠的R&D屏幕測試，通過可選擇的附件水噴霧、浸泡、冷凍擴大檢測能力，適合多平面及3D樣品，臺式設計適合所有實驗室。以氙燈做光源，可以地模擬全光譜太陽光，并適當控制溫度、濕度使在樣品上周期性的產生降水，來全面獲得陽光潮濕及溫度對高分子材料的破壞影響結果（材料老化包括褪色、失光、強度降低、開裂、剝落、粉化和氧化等）。

 氙燈按光源可以分為風冷式、水冷式，試驗參照標準：GB/T 2424.14-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 太陽輻射試驗導則、GB/T 2423.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Sa：模擬地面上的太陽輔射。

全光譜氙燈老化試驗箱用途：豪恩系列水冷式氙燈試驗機采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。 SN型氙燈試驗箱可用于新材料的選擇、改進現有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。

滿足標準：GB2423-24-1995、GB2424.14-1995、ISO 4892-2:2006、ISO 11341-2004、ASTM G155-05a、ASTM D2565-99、ASTM D4459-06、ASTM D6695-03b

設備主要特點：

4.1 通風冷卻裝置：試驗箱溫度通風冷卻系統(tǒng)由溫控儀自動控制，箱內采用制冷系統(tǒng)降溫。

4.2 控制黑板溫度計采用有線傳輸技術，有效提高了控制精度。

4.3 采用光纖傳輸測量氙燈輻射強度，避免因溫度原因導致測量值誤差的問題。

4.4 在試樣架上安裝了黑板溫度計BPT或黑標準溫度計BST.

4.5 裝置:為了記錄每次試驗工作時間，設備在操作面板上設有定時器，可對設備時間進行控制，定時結束設備即自動關閉。

4.6 保護裝置:為了使氙弧燈能正常工作，不致損壞，開門氙燈自動熄滅，全機停止工作的保護設施。

標準尺寸可選：

風冷氙燈標準內部尺寸：

LQ-XD-80A   內部尺寸：W(400)mm × H(500)mm × D(400)mm

LQ-XD-150A  內部尺寸：W(500)mm × H(600)mm × D(500)mm

LQ-XD-225A  內部尺寸：W(600)mm × H(750)mm × D(500)mm

LQ-XD-448A  內部尺寸：W(800)mm × H(700)mm × D(800)mm

LQ-XD-512A  內部尺寸：W(800)mm × H(800)mm × D(800)mm

LQ-XD-800A  內部尺寸：W(1000)mm × H(800)mm × D(1000)mm

水冷氙燈標準內部尺寸：

LQ-XD-512B  內部尺寸：W(800)mm × H(800)mm × D(800)mm

外箱尺寸：根據實際尺寸來決定。