冷熱三箱沖擊試驗箱

冷熱三箱沖擊試驗箱主要用于測試材料對極熱溫或極冷溫的抵抗力，能使各種物品在短時間內(nèi)完成測試。常用于電子電器成品或零組件、汽車配件、自動化零部件、塑膠、金屬、光電、光伏及高分子材料等行業(yè)，測試其對冷溫、熱溫的反復(fù)抵抗力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量及改善產(chǎn)品的品質(zhì)。

冷熱三箱沖擊試驗箱?參數(shù)可選擇如下：

1. 實驗箱沖擊溫度：

高溫 +60～150℃（固定）

低溫 A：(-10～ -40℃) 

B：(-10～ -55℃)

C：( -10～ -65℃)（可選擇其中一個低溫配高溫）

2. 高溫儲溫箱高溫范圍可達(dá)：+60 ~200℃.

3. 低溫儲溫箱低溫范圍可達(dá)：-10℃~-75℃

4. 高低溫轉(zhuǎn)換時間：≤10S

5. 風(fēng)門啟動時間：≤3S

6. 高低溫恢復(fù)時間：3~5min（非線性空載下）

7. 預(yù)冷區(qū)降溫速度： ≥2℃/min（非線性）

8. 預(yù)熱區(qū)升溫速度： ≥3℃/min（非線性）

9. 控制精度：溫度±0.2℃

10. 溫度波動度：≤0.5℃

11. 溫度均勻度：≤2.0℃

12. 時間設(shè)定0～99Hour59Min。

滿足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

GB/T 2423.22-2002溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則