高低溫冷熱沖擊環(huán)境箱是LED、金屬、光電、橡膠、塑料、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備.主要用于測(cè)試材料對(duì)極熱溫或極冷溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于現(xiàn)實(shí)環(huán)境高溫或低溫中的情形，此設(shè)備能使各種物品在短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。冷熱快速循環(huán)測(cè)試中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，柳沁科技所有試驗(yàn)設(shè)備均是采用PID系統(tǒng)，各類設(shè)備獲得*之信賴。冷熱測(cè)試的效果包括成品裂開(kāi)或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使每個(gè)顧客都可以簡(jiǎn)易操作。

 試驗(yàn)箱分為熱溫區(qū)、冷溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，具*之蓄熱蓄冷沖擊效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷風(fēng)路切換打開(kāi)閥門的方式導(dǎo)入試品中。可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二槽或三槽之功能，具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。試驗(yàn)方式：試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物試驗(yàn)箱里靜靜的擺放著，溫度在高溫箱及低溫箱內(nèi)受試驗(yàn)條件及控制器指標(biāo)根據(jù)冷熱沖擊要求通過(guò)氣體分別把冷熱溫度帶動(dòng)過(guò)來(lái)完成交替沖擊的試驗(yàn)條件。

高低溫冷熱沖擊環(huán)境箱主要技術(shù)參數(shù)：

1．內(nèi)箱尺寸：   600*500*500MM(W*H*D)

2. 外部尺寸：    1830*1950*1550 MM(W*H*D)

3．試驗(yàn)箱溫度設(shè)定范圍：－65℃～+150℃

4．高溫箱溫度設(shè)定范圍: +65℃～200℃

5. 低溫箱溫度設(shè)定范圍:-10℃～-75℃；

6．降溫時(shí)間：      +20℃～-75℃≤60min；

  （注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能并非沖擊時(shí)間）

7．滿足的試驗(yàn)方法：GB/T10592-2008、GB/T2423.1.2、GJB150.3冷熱沖擊試驗(yàn)。

8．溫度波動(dòng)度：  ±0.5℃

9．溫度均勻度:    ±2.0℃

10．沖擊復(fù)歸時(shí)間：-55℃～150℃約需3~5分鐘

11.溫度轉(zhuǎn)換移動(dòng)時(shí)間:≦10秒

12.時(shí)間各為30分鐘

13．試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。