高校熱用可程式恒溫恒濕箱

高校熱用可程式恒溫恒濕箱是可以同時或單獨做高溫高濕試驗、實驗的設(shè)備。本設(shè)備是用來確定電子產(chǎn)品、電器產(chǎn)品、光電產(chǎn)品、安防產(chǎn)品或其它工業(yè)產(chǎn)品在溫濕度循環(huán)氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性試驗。試驗的嚴(yán)苛程度取決于溫度的濕度和曝露持續(xù)時間或循環(huán)。

高校熱用可程式恒溫恒濕箱的規(guī)格參數(shù):

型號可選：LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）。

內(nèi)箱尺寸可選(mm)寬*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

溫度范圍可選:A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可任意調(diào)節(jié)）。

濕度范圍:20%~98%RH（行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)型）。

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

主要滿足電子電工GB/T2423、高低溫濕熱交變等試驗標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》。

GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》。

GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：》。

GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db交變濕熱(12h + 12h循環(huán)) 》。

 IEC68-2-1（GB2423.1-2001）、GJB150.3-86、GB2424.2-1993、GB/T5170.2-1996。